日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100
產品特點
- 超高電阻范圍：以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
- 平面多點測量功能
- 2D / 3D映射圖像顯示
- Windows 7軟件
- 測量數據可以CSV文件格式輸出
- 由于是非接觸型，因此可以不受接觸電阻的影響進行測量。
測量規格
測量目標
*通常，可以測量本設備測量范圍內的任何樣品。請聯xi我們。
?超高電阻薄膜樣品（a-Si，IGZO等）
?半導體材料接近絕緣
?導電橡膠
這樣
測量尺寸
尺寸：z大300 x 400毫米
厚度：z大2毫米
*我們可以自定義您的要求，例如尺寸支持。請聯xi我們。
測量范圍
10E + 9?10E + 15Ω/□
